Aller au contenu principal
Produits

IMA™

Technologie

  • Imagerie hyperspectrale

Secteurs

  • Matériaux avancés
  • Sciences de la vie
IMA™ Upright
IMA™ inversé

Exploitez la puissance de la microscopie hyperspectrale

IMA est une plateforme de microscopie hyperspectrale qui fournit de l’information spatiale et spectrale dans les régions du visible et du proche infrarouge (400 nm -1620 nm) avec un même instrument. Notre microscope d'imagerie hyperspectrale permet l’acquisition de données à chaque prise d’image de la caméra et permet de cartographier rapidement la photoluminescence, l’électroluminescence, la fluorescence, la réflectance et la transmittance d’un échantillon donné. IMA peut être configuré en un microscope hyperspectral en champ sombre ou en champ clair.Étant basé sur des filtres d’imagerie globale à haute efficacité IMA est un système d'imagerie hyperspectrale plus rapide que les systèmes standards d’imagerie point par point.

Images PL monochromatiques de cristaux de pérovskite excités par une puissance équivalente à 10 soleils avec les spectres des régions de cristaux de pérovskite désignées par les cibles bleues et rouges.

Survol des applications de IMA

  • analyser des matériaux complexes tel que les cellules solaires, les nanomatériaux et effectuer le contrôle qualité de semiconducteurs grâce à la microscopie hyperspectrale (PL, EL)

  • étudier de nouveaux marqueurs infrarouges dans des environnements complexes incluant les tissus et les cellules vivantes par le biais d’un microscope SWIR hyperspectral,

  • sonder des échantillons incolores et transparents tels que des polymères, des cristaux ou des cellules vivantes grâce à un microscope hyperspectral en champ sombre.

Découvrez le futur de la microscopie hyperspectrale grâce à l'IMA : un outil précis et efficace pour votre recherche scientifique.

Fiche technique

Spécifications techniques
VIS SWIR
Plage spectrale 400-1000 nm 900-1620 nm
Résolution spectrale < 2 nm < 4 nm
Canaux spectraux Accordabilité continue Accordabilité continue
Résolution spatiale Submicronique - limitée par le NA de l’objectif de microscope Submicronique - limitée par le NA de l’objectif de microscope
Caméra CCD, EMCCD, sCMOS Caméra InGaAs de Photon etc. (ZephIR™ 1.7 ou Alizé™ 1.7)
Longueurs d’onde d’excitation (jusqu’à 3 lasers) 405, 447, 532, 561, 660, 730, 785, 808 nm (d’autres longueurs d’onde sont disponibles au besoin) 405, 447, 532, 561, 660, 730, 785, 808 nm (d’autres longueurs d’onde sont disponibles au besoin)
Microscope Droit ou inversé, grade scientifique Droit ou inversé, grade scientifique
Illumination en lumière blanche Diascopique, épiscopique, Hg, halogène Diascopique, épiscopique, Hg, halogène
Options d’illumination Module d’épifluorescence, illumination darkfield (condenseur à l’huile ou sec) Module d’épifluorescence, illumination darkfield (condenseur à l’huile ou sec)

Fiche technique

Applications

Publications

Vidéos

Caractérisation hyperspectrale de la prochaine génération de cellules solaires et DEL

Cette vidéo démontre comment des cartes de PL et EL résolues spectralement et spatialement permettent d’identifier différents défauts, de cartographier des zones moins efficaces et d’imager l’uniformité de matériaux de pointe. Une démonstration d’imagerie hyperspectrale en photoluminescence est réalisée sur des cristaux de pérovskite à larges grains.

Technologie d’imagerie globale de Photon etc.

Cette vidéo montre la différence conceptuelle entre l’imagerie hyperspectrale globale et l’acquisition par balayage. Avec l’imagerie globale, seules quelques images monochromatiques sont nécessaires pour obtenir un cube de données hyperspectrales (X-Y axes spatiaux, Z axe spectral). Avec les technologies par balayage, un spectre doit être enregistré en chaque point ou ligne du champ de vu désiré.

IMA - microscope hyperspectral

Des cellules solaires à l’imagerie de cellules vivantes, ce microscope hyperspectral global, IMA fourni rapidement des cartes résolues spectralement et spatialement dans les régions du VIS, NIR et SWIR. Des mesures de fluorescence, de photoluminescence, d’électroluminescence, de transmittance et de réflectance peuvent être réalisées. Les modalités de champ sombre et de champ clair sont disponibles.

Caractérisation de défauts dans le carbure de silicium

Cette vidéo montre comment différents types de défauts dans le SiC peuvent être facilement détectés grâce à des cartes d’électroluminescence obtenues à l’aide du système d’imagerie hyperspectral de Photon etc., IMA. Cette technologie d’imagerie hyperpsectrale améliore les capacités de développement de matériaux avancés.

Découvrez la différence par vous-même : testez vos échantillons avec Photon etc.

Vous voulez voir comment nos produits se comportent avec vos échantillons spécifiques ? Expérimentez par vous-même la précision et l'innovation des caméras Photon etc. Envoyez-nous vos échantillons et laissez nos systèmes d'imagerie avancée parler d'eux-mêmes.

Envoyez vos échantillons